1短程有(you)序結構變(bian)化(K狀态)的(de)影響K型熱(re)電偶在250℃—600℃溫(wen)度範圍内(nèi)🌐使用時，由(you)于其顯微(wei)結構發生(shēng)變化，形成(cheng)短程有序(xù)結構，因此(ci)将影響🐕熱(rè)電勢值而(ér)産生誤差(cha)，這就是所(suo)謂的K 狀💜态(tai)。它是Ni—Cr合金(jīn)*的晶格變(biàn)化，當Cr含量(liang)在5—30%範圍内(nei)存在着原(yuan)子晶格的(de)有序無序(xu)轉變。由此(ci)而✉️引起的(de)誤差🐉，因Cr含(hán)量及溫度(dù)的不同而(ér)⭐變化。将K型(xíng)熱🌈電偶從(cong)300℃加熱 至800℃，每(měi)50℃取一點，測(cè)量該點電(dian)勢。在450℃時偏(piān)差大可達(dá)4℃，在350—600℃範圍内(nèi)，均爲正偏(pian)差。由于K狀(zhuàng)态的存在(zai)，使K型熱電(dian)偶在升溫(wen)或降溫檢(jiǎn)定結果不(bú)一緻，故在(zài)廉 金屬熱(rè)電偶檢定(dìng)規程♊中明(míng)文規定檢(jiǎn)定順序：由(you)低溫向高(gao)溫逐點升(shēng)溫檢定。而(ér)且在400℃檢定(ding)點㊙️，不僅傳(chuan)熱效果不(bu)佳，難以達(dá)到熱平衡(heng)，而且，又恰(qia)好處于K狀(zhuang)态🈲誤差大(dà)範圍。因此(cǐ) ，對該點🔴判(pàn)定合格與(yu)否時應很(hěn)慎重。Ni—Cr合金(jīn)短程有序(xù)結構變化(hua)的現象，不(bu)僅存在于(yu)K型，而且，在(zai)E型熱電偶(ou)正極中也(ye)有此現象(xiang)。但是，作爲(wei)變化量E型(xing)熱電偶僅(jǐn)爲📐K型的2/3。總(zǒng) 之，K狀态與(yu)溫度、時間(jiān)有關，當溫(wen)度分布或(huo)熱電偶位(wèi)置變化時(shi)，其🔴偏差也(yě)會🎯發生很(hěn)大變化。故(gu)難以對偏(piān)差大小作(zuò)出準确評(píng)價☁️。